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摘 要 基于现场搜集的连接器,分析了可能导致电接触不良的因素,并且根据电接触理论结合高频传输的特点建立了通信系统中电触点的物理模型.最后以光通信系统中数字配线架(DDF)上的同轴连接器为例,探讨了电触点故障导致误码率增高的可能性. 关键词 同轴连接器;电接触;误码率;接触阻抗 分类号 TM50
Abstract Based on the contact theory and the analysis of the failed connectors collected on spots, The factors which can result in contacts failure and proposes a new physical model of contacts in high frequency is discussed. The theoretical studies of the relationship between the contact failure of DDF and the error codes in optical communication systems are given. Key words coaxial connectors; contact failure; error code rate; contact impedance
近30年来我国的信息科学飞速发展,光通信与计算机网的发展更是迅猛.但有些数字通信网工作一段时间后误码率增高.研究发现,引起误码率增高的重要原因之一是系统中DDF上的连接器电接触不良.这种不良引起误码率高的特点是不稳定、时好时坏、再现性差.影响电接触性能的因素很多[1].如触点材料、接触压力、接触表面粗糙度、镀层质量、磨损及环境条件(腐蚀气体、灰尘、温度和湿度)等.但哪些因素怎样导致DDF上连接器电接触不良,电触点不良怎样影响信号传输而导致误码率增高,这些都是我国特有(环境等)条件下产生的新问题.本文指出了一些可能导致DDF接触不良的因素,根据经典电接触理论,结合高频(高速率)信号传输的特点建立了适用于通信系统中的电触点的新物理模型,并初步探讨了电触点故障导致误码率增高的可能性.
1 环境等因素对电接触的影响 研究表明,对DDF电接触可靠性影响较大的因素是环境与连接器本身的质量(加工精度、接触表面镀层及装配质量)、微动和插拔磨损等.图1和图2为从某通信站现场收集的失效连接器插针和插孔接触表面的扫描电子显微镜图像.从图中可看到在接触表面有大量腐蚀物. |